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  • 場發(fā)射掃描電子顯微鏡
    場發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT810場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率，實現(xiàn)了自動化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外...

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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動觀察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • 日本電子SEM
    日本電子SEM

    JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這...

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  • 掃描電鏡價格
    掃描電鏡價格

    JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價格不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些...

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  • JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀
    JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀

    JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等?！?利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更...

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  • 雙束加工觀察系統(tǒng)
    雙束加工觀察系統(tǒng)

    隨著先進(jìn)材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過程的復(fù)雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術(shù)也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。

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  • JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)
    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)

    JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，能對樣品表面進(jìn)行SIM觀察 、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜...

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  • JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀
    JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

    JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化集成FE-EPMA。

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  • CP截面樣品制備裝置
    CP截面樣品制備裝置

    IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。...

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  • IB-19530CP截面樣品制備裝置
    IB-19530CP截面樣品制備裝置

    IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。

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  • 離子切片儀
    離子切片儀

    EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6&...

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產(chǎn)品展示

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產(chǎn)品分類

  • 透射電子顯微鏡

  • 掃描電子顯微鏡

    場發(fā)射掃描電子顯微鏡 鎢燈絲掃描電子顯微鏡

  • 制樣設(shè)備

  • 電子探針顯微分析儀

  • 多束系統(tǒng)

  • X射線熒光分析儀

  • 核磁共振譜儀

tel-phone

0512-63022732

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  • 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析
    日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析

    日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 ...

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  • 場發(fā)射掃描電子顯微鏡
    場發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT810場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率，實現(xiàn)了自動化操作。內(nèi)置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外...

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  • 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
    熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

    JSM-IT710HR 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 清晰的可見性促進(jìn)新發(fā)現(xiàn)！目前，除了納米級的分辨率和分析性能外，數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認(rèn)為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕...

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  • 日本電子IT210 掃描電鏡
    日本電子IT210 掃描電鏡

    JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動觀察和分析。JSM-IT210 掃...

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  • ROHS金屬成分分析儀
    ROHS金屬成分分析儀

    ROHS金屬成分分析儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和EDS一樣可以并行檢...

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  • 日本電子SEM
    日本電子SEM

    JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這...

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質(zhì)量保障 價格實惠 服務(wù)完善

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賽非特科學(xué)儀器（蘇州）有限公司
關(guān)于賽非特賽非特公司主要是一家專門從事進(jìn)口儀器設(shè)備銷售公司。主要服務(wù)于華東，華中，華南地區(qū)形成了一個覆蓋中國沿海地區(qū)，并延伸至內(nèi)地的銷售網(wǎng)絡(luò)。我們服務(wù)項目包含儀器銷售，維修，安裝，儀器校準(zhǔn)，保養(yǎng)等，是一加集進(jìn)口，銷售，安裝，服務(wù)一體的進(jìn)口儀器銷售公司，公司秉承“技術(shù)至上，服務(wù)進(jìn)取”的經(jīng)營理念，堅持“客戶第一”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。歡迎廣大客戶惠顧！賽非特公司主要合作品牌有：賽默飛世爾THERMOFISHER,安捷倫AGILENT,島津SHIMADZU,日本電子JEOL,牛津儀器Oxford,日本尼康NIKON等品牌產(chǎn)品。主要銷售產(chǎn)品為各式液相色譜，氣相色譜，光譜儀，質(zhì)譜儀，光學(xué)顯微鏡，掃描電鏡，X光檢查機，x光熒光分析儀等相關(guān)儀器。賽非特客戶群為電子行業(yè)，鋼鐵行業(yè)，礦產(chǎn)，生物，醫(yī)療，材料等各種領(lǐng)域。為客戶提供優(yōu)良的解決方案及優(yōu)秀的服務(wù)，用自身技術(shù)協(xié)助解決用戶的現(xiàn)實問題。歡迎廣大客戶來電指導(dǎo)，共同學(xué)習(xí)探討。
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技術(shù)文章
  • 掃描電鏡的能譜儀（EDS）成分分析原理與應(yīng)用
    掃描電鏡的能譜儀（EDS）是一種基于電子束與樣品相互作用實現(xiàn)元素成分分析的重要工具，其原理與應(yīng)用可歸納如下：原理EDS的核心原理是利用電子束轟擊樣品表面，激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子躍遷，產(chǎn)生特征X射線。不同元素的原子核外電子能級結(jié)構(gòu)不同，躍遷時釋放的X射線能量具有性（即特征能量），通過檢測這些X射線的能量分布，可實現(xiàn)元素定性分析；而X射線的強度與元素含量相關(guān)，結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)樣品校正后，可進(jìn)一步完成半定量分析。具體過程為：X射線光子進(jìn)入檢測器后，在硅（Si）晶體中激發(fā)電子-空穴對，其數(shù)量與...
    2025-12-2
  • 掃描電子顯微鏡的日常維護與操作技巧：延長設(shè)備壽命并提升成像質(zhì)量的實用指南
    掃描電子顯微鏡是現(xiàn)代科學(xué)研究中重要的高精度分析儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域。其高分辨率和強大的微觀結(jié)構(gòu)分析能力為科研人員提供了重要的技術(shù)支持。然而，為了確保設(shè)備的穩(wěn)定性和成像質(zhì)量，日常維護和正確的操作技巧至關(guān)重要。以下是一些延長設(shè)備壽命并提升成像質(zhì)量的實用指南。一、日常維護的重要性掃描電子顯微鏡是一種復(fù)雜的高真空設(shè)備，其內(nèi)部包含許多精密的電子元件和光學(xué)部件。日常維護不僅可以延長設(shè)備的使用壽命，還能確保成像質(zhì)量的穩(wěn)定性和可靠性。首先，保持實驗室環(huán)境的...
    2025-11-21
  • 離子切片儀：工作原理、核心技術(shù)與應(yīng)用領(lǐng)域全解析
    離子切片儀（聚焦離子束系統(tǒng)，F(xiàn)IB）作為納米級材料表征與加工的核心設(shè)備，通過高能離子束實現(xiàn)材料的精準(zhǔn)切割與三維重構(gòu)，在材料科學(xué)、電子器件及納米技術(shù)領(lǐng)域發(fā)揮關(guān)鍵作用。工作原理：離子切片儀的核心是利用離子槍發(fā)射高能離子束（如鎵離子），經(jīng)聚焦透鏡和掃描電極形成極細(xì)束流（直徑可至納米級），通過物理撞擊和化學(xué)反應(yīng)逐層剝離材料表面原子，形成厚度僅幾納米至幾十納米的超薄切片。其能量密度與掃描速度的精確控制，確保切割效率與精度的平衡。例如，在8keV能量下，硅材料減薄速度可達(dá)40微米/小時，...
    2025-11-5
  • 探秘鎢燈絲掃描電子顯微鏡：原理與核心優(yōu)勢解析
    鎢燈絲掃描電子顯微鏡（TungstenFilamentScanningElectronMicroscope，簡稱SEM）憑借其獨特的原理和顯著的優(yōu)勢，始終扮演著重要的角色。它以一種近乎“古老”卻極為可靠的方式，為我們呈現(xiàn)了一個個微觀世界的精彩畫面。一、原理：電子束的奇妙之旅鎢燈絲掃描電子顯微鏡的原理可以概括為：通過電子束對樣品表面的逐點掃描，激發(fā)樣品產(chǎn)生信號，再將這些信號轉(zhuǎn)化為圖像。其核心部件是一根被加熱到高溫度的鎢燈絲。當(dāng)電流通過鎢燈絲時，鎢原子被激發(fā)，電子從燈絲表面逸出，...
    2025-10-22
  • 電子掃描電鏡的電子光學(xué)系統(tǒng)與信號探測原理深度解析
    一、電子光學(xué)系統(tǒng)：聚焦與掃描的核心電子光學(xué)系統(tǒng)是掃描電鏡（SEM）的核心組成部分，負(fù)責(zé)產(chǎn)生、加速、聚焦及控制電子束在樣品表面的掃描。其核心部件包括：電子槍：作為電子源，通過熱發(fā)射或場發(fā)射產(chǎn)生自由電子。熱發(fā)射電子槍（如鎢燈絲）成本低但分辨率受限；場發(fā)射電子槍（如六硼化鑭或冷場發(fā)射）亮度高、束斑小，分辨率可達(dá)1nm以下，適用于高精度成像。電磁透鏡：通過電磁場對電子束進(jìn)行聚焦和加速。兩級電磁透鏡將電子束會聚成直徑幾納米的束斑，確保高分辨率成像。掃描線圈：控制電子束在樣品表面進(jìn)行光柵...
    2025-10-11
  • 掃描電鏡(SEM)原理和應(yīng)用范圍
    掃描電鏡（SEM）作為現(xiàn)代材料分析的重要工具，其技術(shù)深度和應(yīng)用廣度令人矚目。從基本原理出發(fā)，SEM利用聚焦的電子束在樣品表面進(jìn)行光柵狀掃描，通過檢測電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號，來觀察和分析樣品表面的形貌、結(jié)構(gòu)和成分。在原理層面，SEM通過電子槍發(fā)射的電子束，在加速電壓的作用下，經(jīng)過電磁透鏡聚焦后，以極細(xì)的束斑在樣品表面進(jìn)行掃描。這一過程中，電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出各種物理信號，其中二次電子對樣品表面形貌極為敏感，是SEM成像的主要信號來源。背散...
    2025-9-25
  • 解析掃描電子顯微鏡技術(shù)特性
    掃描電子顯微鏡（SEM）作為現(xiàn)代微觀分析領(lǐng)域的重要工具，憑借其獨特的優(yōu)勢，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個學(xué)科。它不僅能夠提供高分辨率的微觀圖像，還能進(jìn)行成分分析和三維成像，為科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用提供了強大的支持。本文將深入解析它的技術(shù)特性，揭示其在微觀世界探索中的重要作用。高分辨率與深度感成像與光學(xué)顯微鏡相比，掃描電子顯微鏡（SEM）的分辨率要高得多。這是因為SEM使用電子束而非可見光來掃描樣品，電子波長遠(yuǎn)小于可見光波長，從而能夠揭示更細(xì)微的結(jié)構(gòu)。這種高分辨率使...
    2025-9-16
  • SEM日常維護與常見故障排查：延長設(shè)備壽命的最佳實踐
    日常維護核心要點環(huán)境控制SEM對溫濕度敏感，需保持實驗室溫度在18-25℃、濕度≤60%RH，避免高溫導(dǎo)致電子元件老化或高濕度引發(fā)電路腐蝕。設(shè)備應(yīng)置于獨立防震臺，遠(yuǎn)離門窗、通風(fēng)口及高頻電源等干擾源，并配備UPS穩(wěn)壓電源防止電壓波動。每日開機前檢查冷卻水溫度，關(guān)機后15分鐘再關(guān)閉冷卻系統(tǒng)，避免燈絲過熱損壞。真空系統(tǒng)維護真空系統(tǒng)是SEM穩(wěn)定運行的基礎(chǔ)。每日檢查機械泵、分子泵油位，確保油位在標(biāo)線以上；機械泵油每6個月更換一次，分子泵軸承潤滑脂每年更換一次。每月用丙酮超聲清洗樣品室密...
    2025-9-5
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